半导体冷热循环冲击试验箱主要用来模拟高温环境及低温环境骤然突变的情况，可以用来检测物品在短时间热胀冷缩带来的物理和化学变化，观察物品的性能稳定性。

半导体冷热循环冲击试验箱用于在短时间内模拟冷热环境的变化，以求能更快的反映出试验物品在大自然的温度变化中产生的性能变化。热冷冲击试验机主要包含三个箱体区域，分别为高温区、低温区和测试区，其中测试区用于放置试验物品，在进行冷热冲击试验时高温区或低温区的温度冲入测试区，交替进行冷热测试，无需移动试验物品。冷热冲击试验机的冷热冲击原理就是利用风机将不同的温度的空气吹向测试物品，使用风路切换的方式，每次只能吹入高温或着低温的风，这种方式所以也叫做冷热冲击试验。

工作室内壁：采用优质304镜面不锈钢材料，使用国内目前较*的加工设备加工成型。

箱体外壳：采用优质钢材料，美观，平整，大气，圆弧型设计，线条流畅自然，设计合理，经久耐用。

保温层：使用硬质PU发泡和硅酸铝棉，硅酸铝棉比同类玻璃纤维棉具有耐高温，传热系数低等特点，保温层厚度为100mm，确保试验室内温度不会传到设备外体，使得试验温度更可靠。

符合标准：GB/T2423.1-2008试验A 、GB/T2423.2-2008试验B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求。

控制系统采用7寸彩色触控屏控制器，荧幕操作简单，程式编辑容易，适用于各种温度交变试验条件，具有RS-232通讯界面及软件，可在电脑上执行各种功能;

可独立设立高温、低温及冷热冲击三种不同条件，具备高低温试验机的功能;

可在预约开机时间控制中自动提前预热、预冷待机，并可选择起始位置，由高温或低温开始循环或冲击，具备设定循环次数及自动除霜等功能;

具备全自动，高精密系统回路，任一机件动作，由P.L.C锁定处理，温度控制精度高，全部采用PID自动演算控制

出风口与回风口由传感器控制，风向栅门机构切换时间在10秒内完成，冷热冲击温度恢复时间在5分钟内完成;

运转中如发生异常状况，荧幕上即刻自动显示故障原因，并在发现输入电力不稳定时，紧急停机;

冷冻系统采用法国泰康或美国谷轮牌压缩机，并使用环保型制冷剂。采用二元复叠制冷，以增加设备使用寿命。

半导体冷热循环冲击试验箱性能技术参数：